Universidad Nacional Micaela Bastidas, Licenciada por SUNEDU, por Calidad Educativa y Excelencia Académica
Vista normal Vista MARC Vista ISBD

Técnicas de muestreo estadístico : César, Pérez López [Impreso]

Por: Pérez López, César [Autor].
Tipo de material: TextoTextoMadrid- España Garceta Grupo Editorial 2010Edición: Primera edición.Descripción: 516 páginas : diagramas, tablas ; 17 x 24 centímetros.ISBN: 9788492812103.Tema(s): MUESTREO | MUESTREO SISTEMÁTICO | EspañaClasificación CDD: 519.93 :
Contenidos:
Primeros conceptos en la investigación por muestreo -- Muestreo probabilístico y estimadores. Distribuciones en el muestreo y propiedades -- Métodos de selección de la muestra Probabilidades iguales y desiguales -- Muestreo aleatorio simple -- Muestreo estratificado -- Muestreo sistemático -- Métodos indirectos de estimación -- Muestreo monoetápico de conglomerados -- Muestreo bietápico de conglomerados. Probabilidades iguales -- Muestreo bietápico: probabilidades desiguales y estimación de varianzas -- Muestreo doble y muestreo en ocasiones sucesivas -- Errores ajenos al muestreo: falta de respuesta, marcos imperfectos y error total.
Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.
    valoración media: 0.0 (0 votos)
Tipo de ítem Ubicación actual Signatura Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras Reserva de ítems
Libros Libros Biblioteca Central - Sala General
519.93 : P45 2010 (Navegar estantería) 1 Disponible SK??SGL11857
Total de reservas: 0

Primeros conceptos en la investigación por muestreo -- Muestreo probabilístico y estimadores. Distribuciones en el muestreo y propiedades -- Métodos de selección de la muestra Probabilidades iguales y desiguales -- Muestreo aleatorio simple -- Muestreo estratificado -- Muestreo sistemático -- Métodos indirectos de estimación -- Muestreo monoetápico de conglomerados -- Muestreo bietápico de conglomerados. Probabilidades iguales -- Muestreo bietápico: probabilidades desiguales y estimación de varianzas -- Muestreo doble y muestreo en ocasiones sucesivas -- Errores ajenos al muestreo: falta de respuesta, marcos imperfectos y error total.

No hay comentarios para este ejemplar.

Ingresar a su cuenta para colocar un comentario.

Haga clic en una imagen para verla en el visor de imágenes

Contacto

Con tecnología Koha